離子束切割儀是一種用于物理學領域的工藝試驗儀器，用于樣品的截面制備及平面拋光。Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可以靈活選擇多種樣品臺，不僅適用于高通量實驗，也適合于特定制樣需求實驗室。儀器可用來制備橫切面和拋光表面，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結構分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。

 

Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀具有哪些優勢特點？

 

1、*的三離子束系統，可獲得更好的截面處理質量，快速獲得寬且深的切割區域，大大降低工作時間。并可實現在一次處理過程中處理 3 個樣品。因此對有高通量需求的實驗室，徠卡EM TIC 3X是更理想的解決方案。

 

2、樣品托：多種多樣的樣品托，適合于各類尺寸樣品

 

3、可裝配系統：根據樣品制備需要，可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設計樣品臺——標準樣品臺、多樣品臺或冷凍樣品臺。

 

4、樣品TOPO結構清晰可見：除了剖面切割，使用同一樣品托還可對樣品進行清潔及增強襯度的功能。

 

5、冷凍樣品臺：針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等，可以使用冷凍樣品臺對樣品進行低溫下處理，獲得高質量處理結果。樣品托和擋板的溫度都可達到-150℃。